外延片电阻率检测，外延片检测机构

外延是半导体工艺当中的一种。在bipolar工艺中，硅片最底层是P型衬底硅（有的加点埋层）；然后在衬底上生长一层单晶硅，这层单晶硅称为外延层；再后来在外延层上注入基区、发射区等等。

清析技术研究院可提供相关检测服务，提供CMA/CNAS资质检测报告，实验室设施完备、强大的项目专家检测团队。

外延片检测范围

气相外延片、液相外延片、分子束外延片、硅外延片、半导体外延片、砷化镓外延片等。

外延片检测项目

外观尺寸、晶体结构、电学性质、电阻率、折射率、硬度、表面粗糙度、平整度、密度、化学成分、杂质含量等。

外延片检测周期

到样后7-10个工作日（可加急），会根据样品及其检测项目/方法有所变动，具体需咨询工程师。

外延片检测标准

GB/T 14139-2009 硅外延片

SJ 3242-1989 砷化镓外延片

SJ/Z 1610-1980 硅外延片缺陷图集

GB/T 14015-1992 硅-兰宝石外延片

GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片

SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法

SJ 1550-1979 硅外延片检测方法

SJ 1549-1979 硅外延片(暂行)

SJ 20514-1995 微波功率晶体管用硅外延片规范

T/CASAS 003-2018 p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片

GB/T 30653-2014 Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法

GB/T 30655-2014 氮化物LED外延片内量子效率测试方法

GB/T 30654-2014 Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法

外延片检测流程

1、沟通需求（在线或电话咨询）；

2、寄样（邮寄样品支持上门取样)；

3、初检（根据客户需求确定具体检测项目）；

4、报价（根据检测的复杂程度进行报价）；

5、签约（双方确定--签订保密协议）；

6、完成实验（出具检测报告，售后服务）；

以上是外延片检测的相关介绍，如有其他检测需求可以咨询实验室工程师帮您解答。

北京清析技术研究院提供分析、检测、鉴定、研发等技术服务，已获得CMA、CNAS等资质证书。总院位于北京，在上海、广州、深圳、合肥、南京、成都、武汉等地区设立27家分院，工程师一对一咨询，寄样或上门任您选择，为您提供便利的检测服务。