纳米粒子是指粒度在1—100nm之间的粒子（纳米粒子又称超细微粒）。属于胶体粒子大小的范畴。它们处于原子簇和宏观物体之间的过度区，处于微观体系和宏观体系之间，是由数目不多的原子或分子组成的集团，因此它们既非典型的微观系统亦非典型的宏观系统。关于纳米粒子，北京清析技术研究院可提供浓度测定，固含量测定，接触角测定，粒径分布测定，电位分布测定，磁性测定，表面羟基数测定，表面间力测定，表面氨基测定，稳定性测定，分子量测定，ZETA电势测定，亲油度测定，表面官能团测定，比表面积测定，疏水性测定等检测项目。同时，北京清析技术研究院可对金纳米粒子、银纳米粒子、磁性纳米粒子、铂纳米粒子、金属纳米粒子、氧化锰纳米粒子等进行检测。

纳米粒子检测方法

1、动态光散射技术

动态光散射技术（DLS）是一种常用的纳米粒子尺寸测定方法，其原理是测量纳米颗粒在液相中的布朗运动而得到其尺寸分布。DLS的优点在于快速、简单，而且不需要样品预处理，但其适用范围较窄，只适用于粒径在几纳米到几百纳米之间的粒子。

2、激光粒度分析技术

激光粒度分析技术（LPS）是一种依据尘埃光散射信号，根据Mie理论计算颗粒的特征尺寸和分布的计量方法。相比DLS，LPS可测量更广泛的粒径范围，同时也能够检测颗粒形貌以及杂质的存在。LPS的主要缺点是对于聚集状态的纳米粒子检测效果较差。

3、扫描电子显微镜技术

扫描电子显微镜技术（SEM）是通过对扫描电子的聚焦和偏转产生的信号进行扫描得到的样品表面形貌信息，可高分辨率的观察纳米粒子在样品表面的形貌，同时可以得到颗粒尺寸分布。但SEM需要精细的样品制备，比较耗时。

4、透射电子显微镜技术

透射电子显微镜技术（TEM）是通过电子束在样品内部的衍射成像进行观察，可用于对纳米粒子进行高分辨率成像。TEM不仅可以测量纳米粒子的大小和形态，还可以确定样品中的组分及其化学状态，其缺点在于需要处理高质量的超薄样品。

纳米粒子检测标准举例

1、BS PAS 71:2011 纳米粒子.词汇

2、KS A ISO TS 27687:2009 纳米技术.纳米材料的术语和定义.纳米粒子、纳米纤维、纳米板

3、EN ISO/TS 27687:2009 纳米技术.纳米物体的术语和定义.纳米粒子,纳米纤维和纳米片

4、DS/CEN ISO/TS 27687:2010 纳米技术 纳米物体的术语和定义 纳米粒子、纳米纤维和纳米板

5、ISO/TS 20660:2019 纳米技术 - 材料规格 - 抗菌银纳米粒子

6、GOST R 59582-2021 纳米技术 抗菌银纳米粒子 特性和测量方法

7、T/CEEIA 411-2019 纳米粒子改性聚酯亚胺浸渍树脂

8、ISO/TS 17200:2013 纳米技术.粉末形态中的纳米粒子.特性和测量

9、GOST R 57909-2017 纳米技术 来自纳米粒子的粉末 基本特性及测定方法

10、T/CEEIA 569-2022 电气用纳米粒子改性不饱和聚酯模塑料

11、ASTM E2524-22 分析纳米粒子溶血性能的标准试验方法

以上就是关于纳米粒子检测的介绍，北京清析技术研究院提供分析、检测、测试、鉴定、研发等技术服务，已获得CMA、CNAS等资质证书。总院位于北京，在上海、广州、深圳、合肥、南京、成都、武汉等地区设立27家分院，工程师一对一咨询，寄样或上门任您选择，为您提供便利的检测服务。