金属薄膜通常由铝、铜、钛等金属材料制成。这种薄膜也被称为金属膜，常用于电子元器件、太阳能电池、显示器、光学镜片等领域，具有高反射性、导电性等优良性能。在不同的应用领域，可能会使用特定类型的金属薄膜，如在紫外区常用的铝，在可见光区常用的铝和银，在红外区常用的金、银和铜。此外，铬和铂也常用于一些特种薄膜的制造。

关于金属薄膜，北京清析技术研究院可提供外观质量、尺寸偏差、偏心度、翘边、标称厚度、拉伸强度、热收缩率、直流介电强度、金属层附着力等检测项目。同时，北京清析技术研究院可对电容器用金属化薄膜、薄膜层压金属装饰板、电机系统用金属化薄膜、金属化聚丙烯薄膜、聚对苯二甲酸乙酯薄膜等进行金属薄膜的检测。

检测方法

1. 滴定法

滴定法是一种原理简单、易操作的方法，它通过检测微小孔隙中吸收的液体量来评估薄膜的致密性。滴定法可以快速检测样品的孔隙率，但对于薄膜厚度差异和表面形态的不均匀性会有影响。

2. 氦漏率测试

氦漏率测试是一种以氦气为探测物，检测金属薄膜中氦气渗漏量的方法。该方法可以检测微小的孔隙，并且具有高灵敏度和高准确性。但是，氦气的成本较高，测试时间较长，而且测试设备也比较昂贵。

3. X射线衍射

X射线衍射是一种非破坏性测试方法，它可用于分析晶体状薄膜的晶格结构和厚度。但是，X射线衍射并不能直接检测薄膜中的孔隙，而是通过分析晶格结构来间接推断薄膜的致密性。

4. 压缩测试

压缩测试是一种单针压试验，测试材料的弹性模量和膜表面的微观形貌。这种方法可以直接确定薄膜的孔隙率和致密性，但需要准确控制测试压力。并且，压缩测试需要高精度的实验仪器，测试较为困难。

检测标准

1、DLA DSCC-DWG-89028 REV B-2006 固定敷金属薄膜或敷金属纸和聚酯薄膜介质密封的电容器

2、ASTM F390-98(2003 用共线四探针法对金属薄膜的薄膜耐力的试验方法

3、ASTM F390-11 用共线四探针法测定金属薄膜的薄膜电阻的标准试验方法

4、T/CSTM 01199-2024 多层金属薄膜 层结构测量分析方法 X射线光电子能谱

5、BS EN 62047-14:2012 半导体装置.微型电机装置.金属薄膜材料的成形极限测量方法

6、EN 62047-14:2012 半导体器件 微机电器件 第14部分：金属薄膜材料成形极限测量方法