晶体管泛指一切以半导体材料为基础的单一元件，晶体管具有检波、整流、放大、开关、稳压、信号调制等多种功能，晶体管可用于各种各样的数字和模拟功能。

关于晶体管，北京清析技术研究院可提供电流容量、工作频率、电流放大系数、耗散功率、频率特性、集电极Zui大电流、Zui大反向电压、反向电流等检测项目。同时，北京清析技术研究院可对双极型晶体管、功率晶体管、MOS晶体管、场效应晶体管、纳米晶体管、PNP晶体管、硅晶体管、石墨烯晶体管等晶体管进行检测。

检测方法

（1）静态参数检测

静态参数检测是检测晶体管主要的方法。通过静态参数检测，可以直接得到晶体管关键参数的数值，并从中推断出晶体管的性能以及质量。常用的静态参数检测方法包括：

1、电阻测试法

将多用表的直流电压档调节至 2V 左右，连接到晶体管的引脚，测量晶体管的输入输出电阻。

2、电压测试法

根据晶体管的电压放大倍数特性，用一个含有可变电阻的电路将晶体管与信号源相连，通过调节电路中的可变电阻，使放大后的信号达到需要的幅度。

以上方法可以用来检测各类晶体管，如场效应管、双极性晶体管等。

（2）动态参数检测

动态参数检测是通过对晶体管工作在一定频率下的信号进行测试，来得出晶体管的动态特性的方法。根据动态参数，可以对晶体管的带宽、截止频率、速度等重要性能进行评估。常用的动态参数检测方法包括：

1、频率响应测试法

利用一个可变频率信号源，并在晶体管输出引脚接一个射频卡扣，得出晶体管在不同频率下的响应特性。

2、瞬态响应测试法

用一个矩形脉冲信号作为测试信号，同时对信号源和负载进行控制，得到晶体管的瞬态响应。

以上方法适用于检测高频场效应管、功率晶体管等。

检测标准

1、DANSK DS/EN 120003:2016 空白详细规格：光电晶体管、光电达林顿晶体管、光电晶体管阵列

2、GOST R 71054-2023 双极晶体管 参数系统

3、DLA SMD-5962-86075 REV C-2007 硅单块 移动装置,高 级肖脱基晶体管-晶体管逻辑电路,数字微型电路

4、GB/T 31958-2015 薄膜晶体管液晶显示器用基板玻璃

5、SJ/T 2217-2014 硅光电晶体管技术规范

6、GOST R 71056-2023 场效应晶体管 参数系统

7、T/ZZB 0514-2018 薄膜晶体管液晶显示用光学反射膜