光学薄膜性能测试，极化特性检测CMA资质

	更新时间 2024-10-05 08:00:00 价格请来电询价联系电话 19355561601 联系手机 19355561601 联系人肖工立即询价

详细介绍

光学薄膜是由薄的分层介质构成的，通过界面传播光束的一类光学介质材料。它们的应用始于20世纪30年代，并已广泛用于光学和光电子技术领域，制造各种光学仪器。光学薄膜泛指在光学器件或光电子元器件表面用物理化学等方法沉积的、利用光的干涉现象以改变其光学特性来产生增透、反射、分光、分色、带通或截止等光学现象的各类膜系。这些薄膜可以是透明介质，也可以是吸收介质，可以是法向均匀的，也可以是法向不均匀的。它们的应用无处不在，从眼镜镀膜到手机、电脑、电视的液晶显示再到LED照明等，充斥着我们生活的方方面面，使我们的生活更加丰富多彩。

关于光学薄膜，北京清析技术研究院可提供透过率、反射率、薄膜厚度、表面粗糙度、光学均匀性、表面平整度、硬度、剥离强度、抗刮擦性能、耐磨性能、抗腐蚀性能、光学透明度、波前畸变、色散特性、光学相位延迟、光学吸收率、光谱特性、极化特性、剩余应力、斜入射性能、疏水性、油污附着性、耐候性、耐光性等检测项目。同时，北京清析技术研究院可对单层膜、多层膜、带通滤波膜、带阻滤波膜、反射膜、透射膜、分束膜、偏振膜、增透膜、减反膜、反射镜、分光镜、中心波长膜、非球面膜、椭圆偏振片、光学镀膜、光学薄膜等光学薄膜进行检测。

检测方法

1、氦渗透法测试

氦渗透法是一种间接的测试方法，其原理是将氦气引入光学薄膜中，在真空条件下进行测试，通过监测氦气的渗透量来评估光学薄膜的致密性。该方法具有灵敏度高、试样无损伤等特点，适用于对多层膜、生物质膜及低渗透材料等样品的测试。

2、X射线反射法测试

X射线反射法测试是通过测量反射光的强度来评估光学薄膜的致密性。该方法适用于测量厚度在几纳米至数百微米之间的各种薄膜，支持单层和多层薄膜的测试。

3、光学显微镜法测试

光学显微镜法测试是通过对薄膜的表面形貌进行观察来评估薄膜的致密性，该方法适用于对厚度大于0.1μm的各种薄膜进行测试。

检测标准

1、GB/T 26332.8-2022 光学和光子学光学薄膜第8部分：激光光学薄膜基本要求

2、GB/T 26332.2-2015 光学和光子学光学薄膜第2部分:光学特性

3、T/SGMY 0001-2021 自修复光学薄膜涂料

4、HG/T 4185-2022 聚乙烯醇光学薄膜